Introduction to AI and machine learning
DU - CEIPIParcours Diplôme universitaire - Artificial intelligence and intellectual property (EAD)
Catalogue2024-2025
MCC
Les épreuves indiquées respectent et appliquent le règlement de votre formation, disponible dans l'onglet Documents de la description de la formation.
- Régime d'évaluation
- CT (Contrôle terminal, mêlé de contrôle continu)
Évaluation initiale / Session principale - Épreuves
Libellé | Type d'évaluation | Nature de l'épreuve | Durée (en minutes) | Coéfficient de l'épreuve | Note éliminatoire de l'épreuve | Note reportée en session 2 |
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Examen en ligne | 1 CT | ET | 60 | 1 |
Seconde chance / Session de rattrapage - Épreuves
Libellé | Type d'évaluation | Nature de l'épreuve | Durée (en minutes) | Coéfficient de l'épreuve | Note éliminatoire de l'épreuve |
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Examen en ligne | CT | ET | 60 | 1 |